涂層測厚儀測量注意事項
發布時間：2023-02-22 點擊次數：422次
涂層測厚(hou)儀(yi)用磁性(xing)傳感(gan)器(qi)(qi)測量鋼(gang)、鐵等鐵磁質金屬(shu)基體上(shang)的(de)(de)非鐵磁性(xing)涂層、鍍層，例(li)如：漆、粉末、塑(su)料、橡(xiang)膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁(lv)、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧(yang)化層等。用渦流傳感(gan)器(qi)(qi)測量銅、鋁(lv)、鋅、錫等基體上(shang)的(de)(de)琺瑯、橡(xiang)膠、油漆、塑(su)料層等。廣泛用于制造業(ye)(ye)、金屬(shu)加工業(ye)(ye)、化工業(ye)(ye)、商檢等檢測領域。 涂層測(ce)厚(hou)儀測(ce)量(liang)注意事項：
1.基(ji)體(ti)金屬(shu)(shu)特性(xing) 對于磁(ci)性(xing)方法，標準(zhun)片的基(ji)體(ti)金屬(shu)(shu)的磁(ci)性(xing)和(he)(he)表面粗糙(cao)度(du)，應當與(yu)試件基(ji)體(ti)金屬(shu)(shu)的磁(ci)性(xing)和(he)(he)表面粗糙(cao)度(du)相似。
2.基體金(jin)屬厚度(du)(du)：檢查基體金(jin)屬厚度(du)(du)是否超(chao)過臨界厚度(du)(du)，如果沒有，進行校準后，可以測(ce)量。
3.邊緣效應：不應在緊靠試件的突變處(chu)，如邊緣、洞(dong)和內轉角等處(chu)進行(xing)測量。
4.曲率：不應在(zai)試件的彎曲表(biao)面上測(ce)量。
5.讀(du)數(shu)次(ci)數(shu)：通常由于(yu)儀器的每(mei)(mei)次(ci)讀(du)數(shu)并不完全(quan)相同，因此涂層(ceng)測(ce)厚儀必須(xu)在(zai)每(mei)(mei)一測(ce)量(liang)面(mian)積內取幾(ji)個讀(du)數(shu)。覆蓋(gai)層(ceng)厚度的局部差異，也要求在(zai)任一給定的面(mian)積內進行多(duo)次(ci)測(ce)量(liang)，表面(mian)粗造時更(geng)應如此。
6.表面清潔(jie)度：測量前，應清除(chu)表面上(shang)的任何附著物質(zhi)，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不(bu)要除(chu)去任何覆(fu)蓋層物質(zhi)。
7.磁場：周(zhou)圍(wei)各種電氣設備(bei)所產(chan)生的磁場會嚴重干擾磁性測厚(hou)工(gong)作
8.測頭取向：測頭的放置方式對測量有影響，在(zai)測量時應該與工件保持垂直
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